产品概述
该wct-120ts少子寿命测试仪展示了独特的测量和分析技术。wct-120仪器分别采用由辛顿仪器变温（温度范围从25到200°C ）和准稳态光电导法得到硅片的载流子复合寿命。
wct-120ts系统能力
主要应用：
在一个温度范围内测量硅片的少数载流子复合寿命。
其它功能：
温度和注入相关的少子寿命的周期结果。
应用于：
•初始材料（硅片）质量监控
•晶圆（硅片）加工过程中重金属污染的检测
•评价表面钝化和发射极的掺杂剂扩散
•使用隐含的I-V测量评价过程中引入的漏电流
