R9000硅晶电池片反射率仪太阳能领域全自动两维扫描反射率仪
通过反射率测量进行绒化控制通过颜色和厚度测量进行减反射膜控制
产品特点：
开机无需预热；测试同一块样品，节约工人时间50%以上；
连续测试样品，节约工人时间80%以上。
R9000系列设计精度更高，样品更加贴近积分球，测量的反射率更加准确。
小提示：按照国际上通行的光谱测量标准（CIE），漫反射样品的反射率测量需要使用积分球。因此，要获得电池片绒面反射率的准确数据，需要使用积分球。积分球在使用中要求样品尽量贴近开口。样品离积分球开口越近，积分球收集到的光越多，反射率测量越准确。
高性价比和售后服务
同样价格更多实用配置和功能。每台仪器都选用高质量零件，零件全检，系统出场前必须全部通过测试。厂家随同仪器提供完整的技术资料和软件。免费培训用户技术人员2人，并进行操作演示、技术咨询及数据处理等培训。维修响应时间：卖方接到买方的维修通知后24-48小时迅速响应。免费质保期内卖方负责所有因设备质量问题而产生的费用。质保期后的服务后，提供终身维护服务，只按厂价收取所换的成本费，不收维护费。国内设有物流中心，免去了购买进口产品不可避免的维修周期长的弊病和高关税。自主研发，具有更大的自主改进和开行性，对不同的客户要求可以积极有效的响应。
R9000-2DMA自动图谱（Mapping）功能
-单块片子反射率并不均匀，传统反射率仪器只能测试某一点，多点测试靠人工移动，数据没有可比性。
-R9000 提供全自动多点扫描功能，让您更准确了解自己的产品情况
R9000-2DMA应用
电池片（Cell/module) 减反工艺，优化及监控包括：酸制绒工艺； 碱制绒工艺； SiNx 减反膜工艺； 复合减反膜工艺EVA封装工艺； TiO2减反膜工艺； SiO2钝化工艺； 光伏（绒面）玻璃封装工艺
裸片和镀膜片测量裸片和镀膜片测量:两维扫描（Mapping）快速，操作方便积分式、非接触
测量参数：单点反射率两维扫描反射率电池片不均匀度膜厚色度（颜色）
产品组件:两维全自动反射率仪R9000-2DMA标准白参考瓦标准镜面反射体控制软件Morpho-R9MA膜厚及色度分析软件灯泡
用于检测所有相关硅片类型:单晶硅片（抛光、粗糙、绒化）多晶硅片（抛光、粗糙、绒化）硅片尺寸：125x125 / 156x156 mm
