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首页 > 所有系列 > 光伏薄膜(半导体)测试 > PIDcon bifacial 台式潜在诱导退化测试仪

PIDcon bifacial 台式潜在诱导退化测试仪

No.PIDcon bifacial

Freiberg公司与德国Fraunhofer CSP公司合作推出了PIDcon bifacial，这是一款专为商业应用设计的台式设备，用于测量太阳能电池和微型模块中的电势诱导衰减（PID）。该设备符合IEC 62804-TS标准，具备快速测量能力（数小时至数天），并能直接测量分流电阻、功率损耗等多项关键参数，无需气候室或层压步骤，便于后续研究与远程技术支持。

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Freiberg公司与德国FraunhoferCSP公司合作开发了一种可作为商业应用的台式太阳能电池和微型模块的电势诱导衰退控制的测量解决方案。

PIDcon bifacial的特点

+ 符合IEC 62804-TS 标准

+ 易于使用的台式设备

+ 能够测量c-Si太阳能电池和微型模块

+ 无需气候室

+ 无需层压电池

+ 测量速度:小时至数天

+ 可测量参数:分流电阻、功率损耗、电导率、泄漏电流

、湿度、温度

+ 太阳能电池可以在以后通过EL等进行研究

+ 基于IP的系统允许远程操作和技术支持从世界任何地方

易于PID控制和PID电阻控制的太阳能电池

上海·销售+技术支持+售后服务中心
Rayscience Optoelectronic Innovation Co., Ltd
地址：上海市闵行区总部一号都会路2338弄122号楼4楼
电话：021-34635258 021-34635259
传真：021-34635260
E-mail: saleschina@rayscience.com;
Amin@rayscience.com

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产品: 材料3D实时动态显微镜 MEMS 半导体; Zeta-300 光学轮廓仪表面轮廓测试系统; LOANA; 少子寿命测试仪 WCT-120MX; FastEQE 高速量子效率测试仪; 少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭; WCT-120 / 120MX硅片寿命测试仪; 电化学ECV 掺杂浓度检测电化学CV分布仪（CV测试仪）电化学CV剖面分析仪电化学CV载流子浓度结深测试仪; 接触电阻率和薄层电阻 TLM-SCAN+ 多功能太阳电池栅线接触电阻测试仪

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