型号:OE-PV01
随着多晶硅,硅片,太阳能电池片工艺的不断发展与提高,光伏产业对硅片及电池片质量的检测要求越来越高。本仪器专门用于对硅片以及太阳能电池片的显微质量检测,检测结果快速直观准确。■ 对于硅片的错位、层错、划痕、崩边等缺陷进行检测;■ 对硅片的杂质、残留物成分进行分析;■ 太阳能电池片的制绒质量检测、柵线尺寸精确测量、裂片、污染等缺陷的检测。
■ 观测方式:明场/暗场观测、偏光观测、微分干涉观察(选配);■ 观察头:铰链式三目头,30°倾斜;■ 大视场高眼平场目镜:WF10X视场范围25mm;■ 长工作距离无限远平场明暗场金相物镜(标配4个); 5×/0.1B.D/W.D.29.4mm、10×/0.25B.D/W.D.16mm、 20×/0.40B.D/W.D.10.6mm、40×/0.60B.D/W.D.5.4mm、 50×/0.55B.D/W.D.5.1mm、100×/0.80B.D/W.D.3mm(干镜)■ 转换器:内定位四孔转换器,带微分干涉插口;■ 粗、微动同轴调焦,采用齿轮齿条传动机构,微动格值0.002mm■ 载物台:低位同轴手动草组,平台尺寸:190mm×162mm(可定制),移动范围82mm×51mm(可定制)■ 偏光装置:检偏镜可360度转动,起偏镜检偏镜均可移出光路;■ 透射/落射照明:卤素灯 12V/50W,AC85V-230V,亮度可调节。