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JX2008硅材料综合测试仪

No.JX2008
JX2008电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,适用于半导体及太阳能行业的筛选。
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类型 数字式电阻测量仪表 品牌 杭州晶翔
型号 JX2008 测量范围 0.001-100(MΩ)
精度 0.001 重量 0.5(kg)

产品特点:

1. 仪器采用220V交流电源供电; 

2. 同时检测半导体材料的电阻率和型号两项指标; 

3. 拥有较高的电阻率测试分辨率,最小可到0.001欧姆.厘米;

4. 能精确的分辨电阻率在0.002欧姆.厘米以上的硅半导体材料型号; 

5. 独立的P/N型重掺告警设置,便于工厂大规模快速选料; 

6. 短路的体积和便携性; 

7. 简单的操作,快速的测试; 

8. 低廉的价格,很高的性价比;

参数指标:

1. 具有电阻率及型号测试功能,适合分选型号,并能够测试并显示出电阻率的值。

2. .电阻率分档直观,P/N报警门限分设。

3. 预设样片厚度,自动修正,直读电阻率.

4. P/N分选精度超强

5. 交流电AC220V供电

6. 主机尺寸:155×120×50mm

7. .电阻率:0.001-100欧姆厘米

8. P/N型号:0.005欧姆厘米<电阻率<100欧姆厘米

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Rayscience Optoelectronic Innovation Co., Ltd 

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