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功能特点 |
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●符合美国ASTM标准 |
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●可测硅片也可测硅块，可增加少子寿命map图 |
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●无损非接触测量 |
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主要参数 |
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测试范围和精度 |
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可测试材料 |
单片或块状硅材料 |
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扩散形成P-N后的太阳电池(无金属电极) |
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少子寿命测试范围 |
1μs~1000μs |
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电阻率测试范围 |
≥0.1Ωcm |
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分辨率 |
5mm |
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测试不重复度 |
≤2% |
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测试速度 |
5秒/点 |
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机械参数 |
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微波源 |
长*宽*高：1400mm*1380mm*810mm |
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工控机 |
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脉冲激光源 |
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使用要求 |
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供电 |
交流单相，220V/110V±10%，20A，50/60Hz |
