首页
关于我们
关于我们
成功案例
关于我们
产品介绍
产品分类
新闻动态
新闻动态
展会活动
新闻动态
下载中心
联系我们
语言
CN
获取报价或资料
语言
简体中文
首页
关于我们
成功案例
关于我们
产品介绍
产品分类
新闻动态
展会活动
新闻动态
下载中心
联系我们
获取报价或资料
首页
>
所有系列
>
VLSI标准样片
VLSI标准样片
No.G56AD7BD8458A6
VLSI标准样片 VLSI标准样片公司致力于向全球半导体及相关产业提供量测标准样片和相关服务。VLSI目前提供的标准样片可以用来校准各种高精度量测仪器,并且可以溯源到NIST
GET A QUOTE
facebook
line
twitter
whatsapp
pinterest
tumblr
linkedin
产品详情
联系我们
VLSI标准样片公司致力于向全球半导体及相关产业提供量测标准样片和相关服务。VLSI目前提供的标准样片可以用来校准各种高精度量测仪器,并且可以溯源到NIST。
特点:
◆支持ISO或TS质量体系认证;
◆可以溯源到NIST;
◆更高的可靠性;
◆更小的不确定度。
应用:
◆颗粒标准样片:用于校准颗粒检测仪;
◆薄膜厚度标准样片:用于校准膜厚仪;
◆台阶高度标准样片:用于校准表面轮廓仪;
◆线宽标准样片:用于校准扫描电镜或原子力显微镜;
◆电阻标准样片:用于校准电阻量测仪;
◆太阳能参考电池片:用于校准光电转换效率量测仪。
上海·销售+技术支持+售后服务中心
Rayscience Optoelectronic Innovation Co., Ltd
地址:
上海市闵行区总部一号都会路2338弄122号楼4楼
电话:
021-34635258 021-34635259
传真:
021-34635260
E-mail:
saleschina@rayscience.com
资料下载
amin
余超
mike