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电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)
No.G4D91A61F19A84
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL):大小裂痕(large and microcracks)、缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域
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电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)
检测功能: 大小裂痕(large and microcracks)、缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域
样品大小: 5吋及6吋太阳能电池芯片或模块
检测速度: 0.5秒内
解 析 度: 最高可达600um
电源供应: 依照样品规格选用, 有8V-20A、6.7V-30A及 20V-50A可供挑选
上海·销售+技术支持+售后服务中心
Rayscience Optoelectronic Innovation Co., Ltd
地址:
上海市闵行区总部一号都会路2338弄122号楼4楼
电话:
021-34635258 021-34635259
传真:
021-34635260
E-mail:
saleschina@rayscience.com
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