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Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试

No.F20、F30、F40、F50
美国Filmetrics光学膜厚测量仪,利用反射干涉的原理进行无损测量,可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率,测量迅速,操作简单,界面友好,是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线,波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的,透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50
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建于 1995 年的美国 Filmetrics, Inc. 公司, 以提供简单而价格合理的薄膜测量仪器为宗旨。 在我们进入这个市场之前,商业薄膜测量仪器动辄就要 $50,000 美元或更多,而且操作人员需要预先接受培训。 单次测量就要花几分钟,甚至几小时时间。

Filmetrics 的目标就是设计经济有效的微型光谱仪系统,而硅控线型光电传感器技术的最新发展使这一目标得以实现。 我们把先进的技术、软件、和丰富的薄膜经验结合在一起,创造出了简单而直观的 Windows 界面。 其成果就是 F20,这是一种很简洁的系统,具有令人惊异的速度和准确性,生产操作人员只需要几分钟培训即可使用仪器 – 而所有这一切只有传统仪器几分之一的价格。

我们的成就已经获得了业内新闻界的广泛承认,我们的产品被评为年度“100 种最具技术意义”的产品之一和年度“25 项最佳新产品”之一。

研究开发杂志
• 1977 年,Filmetrics F30 产品当选 “研发 100 大奖”。
• 2002年,Filmetrics 的厚度成像技术当选 “研发 100 大奖”。

光子光谱杂志
• 1998年,Filmetrics F20 被评为 “25 项最佳新产品”。

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