RAYSCIENCE公司的MicroPhase-DCM200数码共聚焦显微镜可以高效率的观察和测量各种工业生产与研究、医学、考古学和刑侦学等不同领域中出现的特殊的，有学术意义的敏感表面。
一个精密的数码共聚焦模块连接到您使用的光学显微镜，它以30帧每秒的高速纵向扫描方式，采集和测量您的样品表面显微形貌，从而得到一个精确的、三维的、高分辨率显示的黑白或真彩色表面形貌图。
易于使用的软件提供许多分析选项，包括粗糙度和波纹度测量、台阶高度评价和颗粒分析等等。用户自定义的试验报告可以把图像和各种测量结果结合在一起，将大大扩展您的研究空间，增加您的工作效率。♦高精度三维测量♦采用非接触方法，可迅速对显微阶梯高度进行三维精确测量♦可靠的质量分析♦将二维图像升级为三维图像
粗糙度测量范围（Ra μm ）：>0.01到3测量点数：1.3M（1280x1024像像素阵列）测量时间（秒）：<10显微镜接口：视频端口（兼容C型接口）尺寸（长x宽x高）（mm）：120x74x173
显微镜物镜
5x
10x
20x
50x
工作距离*，mm
15.8
9.3
2.1
0.58
数值孔径(N.A)
0.13
0.25
0.5
0.8
测量面积(X,Y)mm2
1.3x1.0
0.66x0.53
0.33x0.27
0.13x0.10
轴向(Z轴)最大范围,um
1000
250
62.5
10
轴向(Z轴)分辨率,um
0.35
0.09
0.04
0.011
校准：物镜、增益、图像配准二维：距离、面积、面积比、当量面积的圆半径、周长、分段、二值形态、光滑度、中位值、分类、伽马校正、锐化等等三维：高度、粗糙度（轮廓/表面，按ISO4278的计算）、体积、表面积等其它：叠加、拼缝（接合）、报告功能。
