ResMap四探针测试仪
ResMap四探针电阻率测试仪
ResMap CDE273四探针太阳能硅片电阻率测试仪
ResMap CDE273四探针电阻率测试仪简介：
四探针太阳能硅片电阻率测试仪
光伏测试专用美国ResMap四点探针
ResMap CDE273四探针电阻率测试仪的特点如简述如下:
* 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高
* 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现性
* Windows 操作接口及软件操作简单
* 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67mΩ-cm及Implant高电阻2KΩ/□以上,皆可达成高精确度及重复性)
* 体积小,占无尘室面积少
* 校正简单,且校正周期长
* 可配合客户需求,增强功能与适用性
* 300mm 机种可以装2~4个量测头,并且可以Recipe设定更换
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的。
ResMap CDE273四探针电阻率测试仪主要特点：
测量范围广,精度高,稳定性好,功能齐全强大,软件好用,维修成本低,服务好,配件齐全...
美国进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪/太阳能光伏扩散薄层电阻测试仪（Four point probe(4PP)）
设备名称: 四点探针电阻仪 (CDE ResMap)
主机厂牌、型号与附件: CDE ResMap
规格:
1. Pin material: Tungsten Carbide.
2. Pin compression force Typically 100 gm to 200 gm.
3. 样品尺寸: 2吋至6吋晶圆 (表面须为平整的导电薄膜，半导体材料)
设备用途: 导电薄膜的电阻值分布测量，半导体，光伏
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特点：
1）针尖压力一致
2）适用于各种基底材料
3）友好的用户界面
4）快速测量
5）数据可存储
应用：
1）方块电阻
2）薄片电阻
3）掺杂浓度
4）金属层厚度
5）P/N类型
6）I/V测试
ResMap CDE273四探针电阻率测试仪测试性能指标：
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
半导体行业行业测试标准，服务众多知名半导体工业用户！
CDE ResMap Model 273
