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薄膜应力测量系统

No.BN-A8EDFC21
世界顶级薄膜应力测量系统,MOS技术荣获美国专利!曾荣获2008 Innovation of the Year Awardee!
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技术指标:

1.XY双向程序控制扫描平台扫描范围:200mm;300mm (XY)(可选);

2.XY双向扫描速度:最大20mm/s;

3.XY双向扫描平台扫描最小步进/分辨率:2 μm ;

4.薄膜应力测量范围:5×104Pa to 4×109Pa);

5.薄膜应力测量分辨率:优于0.1MPa;

6.测量精度:优于±0.1%;

7.测量重复性:优于0.1%;

8.平均曲率分辨率:< 2e-5 (1/m) 1-sigma (100km radius) ;

9.平均曲率重复性:<2×10e-5 1/m;

主要特点:

1.程序化控制扫描模式:选定区域、多点线性扫描、全面积扫描;
2.成像功能:样品表面2D曲率成像,定量薄膜应力2D成像分析;
3.测量功能:曲率、曲率半径、应力强度、应力和翘曲等;
4.支持变温热应力测量功能,温度范围-65C to 1000C;
5.薄膜残余应力测量;
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Rayscience Optoelectronic Innovation Co., Ltd 

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