美国CDE 273四探针电阻率/方块电阻测试仪完成安装验收
2014年10月15号由我公司推荐的美国CDE四探针电阻率/方块电阻测试仪产品用于印刷线路板中金属厚度测量.
德国知名企业atotech,在经过慎重比较后最终选择CDE 273用于印刷线路板中金属厚度测量.CDE 273以业内精度高,稳定性,重复性好,赢得用户的认可.
半导体行业领先品牌，服务众多知名半导体工业用户！
CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)
CDE 提供自动计算机量测的四点探针阻值量测机台。快速，精确与软件控制下针、软件功能可最佳化下针压力，即使薄片量测也不易破裂。自动清针(Probe Conditioning);动作，双针头切换能使用可支持自动Loader，300mm 机台可使用Front End，最多扩充3个量测单元，支持Semi标准接口。
