发布日期：2016-11-15
美国CDE 178四探针电阻率/方块电阻测试仪在北京大学纳米化学研究中心用于石墨烯研究完成安装验收
2016年3月15号由我公司推荐的美国CDE四探针电阻率/方块电阻测试仪产品用于石墨烯电阻率测量.
北京大学纳米化学研究中心,在经过慎重比较后最终选择CDE 178用于石墨烯电阻率测量.CDE RESMAP 178以业内精度高,稳定性,重复性好,赢得用户的认可.
半导体行业领先品牌，服务众多知名半导体工业用户！
CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)
CDE 提供自动计算机量测的四点探针阻值量测机台。快速，精确与软件控制下针、软件功能可最佳化下针压力，即使薄片量测也不易破裂。自动清针(Probe Conditioning);动作，双针头切换能使用可支持自动Loader，300mm 机台可使用Front End，最多扩充3个量测单元，支持Semi标准接口。
